光博會(huì)CIOE

一年一度的光博會(huì)完滿結(jié)束啦，非常感謝各位的蒞臨和指導(dǎo)！展會(huì)期間，我們展示了布魯克一系列的納米表面儀產(chǎn)品，如納米力學(xué)壓痕/劃痕、三維光學(xué)輪廓儀、摩擦磨損測(cè)試儀、AFM、NanoIR等表面量測(cè)技術(shù)。這些儀器專(zhuān)門(mén)針對(duì)材料表面很微觀的量測(cè)，精度也是業(yè)界所認(rèn)可的。其中，三維光學(xué)輪廓儀的垂直分辨率可達(dá)0.01nm，用于觀察材料表面微納尺度形貌、粗糙度；摩擦磨損測(cè)試儀測(cè)量范圍從微牛到2000N，多種可選功能，如線性驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)、往復(fù)驅(qū)動(dòng)等滿足各種運(yùn)動(dòng)模式；納米力學(xué)壓痕/劃痕用于材料表面硬度、模量、薄膜結(jié)合力、薄膜斷裂、涂層/鍍層粘附力測(cè)量。