Bruker白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能全面、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀*的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。

　　Bruker白光干涉儀由以下及部分構(gòu)成：

　　光學(xué)照明系統(tǒng) ，采用鹵素光源，其中心波長(zhǎng)為576納米，光譜范圍從340納米到780納米。光學(xué)成像系統(tǒng) 采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)成像系統(tǒng)，由顯微物鏡和成像目鏡組成。垂直掃描控制系統(tǒng) 由壓電陶瓷以及控制驅(qū)動(dòng)器構(gòu)成，采用閉環(huán)反饋控制方法，可精密驅(qū)動(dòng)顯微物鏡上下移動(dòng)，移動(dòng)范圍100mm。位置移動(dòng)精度為0.1納米。信號(hào)處理系統(tǒng) 信號(hào)處理系統(tǒng)是該儀器的核心部分，由計(jì)算機(jī)和數(shù)字信號(hào)協(xié)處理器構(gòu)成。利用計(jì)算機(jī)采集一系列原始圖像數(shù)據(jù)。然后使用專用的數(shù)字信號(hào)協(xié)處理器完成數(shù)據(jù)解析作業(yè)。應(yīng)用軟件 應(yīng)用軟件主要由操作控制部分，結(jié)果顯示部分以及后處理部分組成。主要用于操作控制表面形狀測(cè)量?jī)x器。同時(shí)，以三維立體，二維平面以及斷面分布曲線方式顯示實(shí)時(shí)測(cè)量結(jié)果。并可對(duì)測(cè)量結(jié)果作進(jìn)一步的修正處理。

　　Bruker白光干涉儀的測(cè)量應(yīng)用說(shuō)明：

　　以測(cè)量單刻線臺(tái)階為例，在檢查儀器的各線路接頭都準(zhǔn)確插入對(duì)應(yīng)插孔后，開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)，啟動(dòng)計(jì)算機(jī)，將單刻線臺(tái)階工件放置在載物臺(tái)中間位置，先手動(dòng)調(diào)整載物臺(tái)大概位置，對(duì)準(zhǔn)白光干涉儀目鏡的下方。

　　在計(jì)算機(jī)上打開(kāi)光學(xué)3D表面輪廓儀測(cè)量軟件，在軟件界面上設(shè)置好目鏡下行的低點(diǎn)，再微調(diào)鏡頭與被測(cè)單刻線臺(tái)階表面的距離，調(diào)整到計(jì)算機(jī)屏幕上可以看到兩到三條干涉條紋為佳，此時(shí)設(shè)置好要掃描的距離。按開(kāi)始按鈕，光學(xué)3D表面輪廓儀可自動(dòng)進(jìn)行掃描測(cè)量，測(cè)量完成后，軟件自動(dòng)生成3D圖像，測(cè)量人員可以對(duì)3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，獲得被測(cè)器件表面線、面粗糙度和輪廓的2D、3D參數(shù)。